Detalii contact

Nume persoană contact: Constantin COSTEA
Funcţie: Director de proiect
+40768591643
titicostea[@]yahoo.com

Laborator de pregătire de probe

  • Maşină de debitat probe brute, LABOTOM
  • Maşină de debitat probe de precizie, ACUTOM
  • Maşină pentru şlefuit probe, TAGREMIN
  • Baie cu ultrasunete

Laborator de pregătire și preanaliză

  • Instalație de bombardament ionic IM 4000
  • Instalație acoperire în vid Q300T D
  • Microscop stereografic STEMI 508
  • Microscop calcografic AXIO IMAGER A2m
  • Microscop cu scanare tabletop TM 3030

Laborator de microscopie electronică

  • Microscop electronic cu baleiaj MERLIN GEMINI 2
  • Pistol XRF portabil – detector şi analizor de minerale şi roci portabil, tip pistol, necesar achiziţiei de informaţii primare în locuri greu accesibile
  • Tub de raze X
  • Notebook – 6 buc
  • Multifunctionala laser color
  • Sistem climatizare
  • Mobilier laborator
  • Sistem evacuare gaze laborator
  • Amenajare spatiu

Laborator de pregătire de probe

Maşină de debitat probe brute, LABOTOM – pentru felierea eşantioanelor de roci în vederea executării secţiunilor groase sau subţiri.

Maşină de debitat probe de precizie, ACUTOM – pentru executarea secţiunilor groase sau subţiri după anumită orientare.

Maşină pentru şlefuit probe, TAGREMIN – pentru şlefuirea suprafeţelor de analizat în vederea obtinerii unei rezoluţii de imagine ridicată.

Baie cu ultrasunete, X-tra basic 550 – curăţare probe de pulberi, sau depuneri organice.

Laborator de pregătire și preanaliză

Instalație de bombardament ionic IM 4000

Sistem de pregătirea probelor de înaltă calitate specific aplicaţiilor SEM

  • Secţionare şi tăiere pantă.
  • Finisare şi de curăţare pentru probe SEM şi EBSD.
  • Tun ionic de mare de energie pentru frezare rapidă.
  • Tun ionie de mică energie pentru lustruirea suprafeţei şi curăţare.
  • Setările parametrilor şi operare automată.
  • Rotaţie probă şi oscilaţie.
  • Suport specific de prepararea probelor cu poziţionare de înaltă precizie.
  • Monitorizarea în timp real a procesului de măcinare de înaltă rezoluţie, camera cu CCD şi monitor TFT.

Instalație acoperire în vid Q300T D

Acoperire cu metale şi grafit în scopul scurgerii la împământare a surplusului de curent:

  • acoperiri metalice,
  • acoperiri cu carbon,
  • pompa duală,
  • o ţintă de aur inclusă

Microscop stereografic STEMI 508

Este necesar în inspectarea preliminară a pulberilor, microfaunei şi în fixarea acestora pe suportul pobei, ordin de mărire 1x la 30x.

Microscop calcografic AXIO IMAGER A2m

Microscop calcografic cu cameră digitală, este un microscop optic cu reflexie de lumină, dotat cu nicoli în cruce pentru punerea în evidenţă a mineralelor din componenţa rocilor sau a altor compuşi chimici. Ordin de mărire min 6x la 500x

Microscop cu scanare tabletop TM 3030

realizeaza imagini cu ordin de marire 10x pana la 30.000x , detecteaza elementele de la bor la uraniu si realizeaza analize chimice procentuale calitative si cantitative

Caracteristici:

  • Detectori
  • electroni retrodifuzati
  • EDS
  • Sistem low vacuum si high vacuum
  • Sistem de racire tip Peltier de pana la minus 35 grade Celsius
  • Rezolutie mai mica de 137 eV

 

Laborator de microscopie electronică – Scanning electron microscope (SEM)

Microscop electronic cu baleiaj MERLIN GEMINI 2
  • Microscop electronic cu baleiaj
  • Ordin de marire x 1.000.000
  • Rezolutie 1,0 nm , 15 kV, 300 nA
  • Detectori ES în camera probei, ES şi BS în coloană
  • WDS, EDS, EBDS
  • Control temp: -70°C Peltier şi -170°C, cu azot lichid
  • Control temp: 950°C şi 1500°C
  • Spectrometrie RAMAN, CATODOLUMINISCENTĂ, PHOTOLUMINISCENTĂ (SCA RENISHAW)

Unitatea de bază este reprezentata de ZEISS MERLIN, COLOANĂ GEMINI II.
Folosirea microscopului electronic cu baleiaj în analizarea probelor poate furniza o gamă largă de informaţii de suprafaţă sau analitice.

Informaţiile de suprafaţă pot fi:

  • imagini electrono – optice cu ordin de mărire cuprins între x 40 şi x 1000000 ale detaliilor de relief a suprafeţei de studiat; aceste imagini sunt obţinute prin captarea electronilor secundari emişi de probă la excitarea prin bombardament electronic.
  • informaţii calitative asupra reliefului şi a compozitiei chimice a suprafetei studiate, obţinute prin captarea electronilor retrodifuzaţi
  • imagini topografice tridimensionale a suprafeţei scanate
  • harţi de distribuţie pe element a compoziţiei chimice a suprafeţei studiate
  • hărţi de distribuţie a tuturor elementelor compoziţiei chimice a suprafeţei studiate
  • analize chimice calitative şi cantitative obţinute prin energii dispersive ale radiaţiei X, EDS
  • analize chimice calitative şi cantitative obţinute prin lungimile de undă ale radiaţiei X, WDS
  • analize chimice si structurale prin difracţie de electroni retrodifuzaţi, EBSD
  • analize chimice si structurale prin Spectromrtrie Raman, Catodoluminiscenţă şi Photoluminiscenţă.
Beneficiar: Institutul Geologic al României